Suzpec LLC
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 Suzpec LLC engages in custom software. In this page, it shows some examples.

LightFieldTM AddIn Software (LightField is 64-bit data acquisition package for spectroscopy and imaging of Roper Scientific)
  □●Spectroscopic mapping AddIn
  □●Decay Image analysis AddIn


WinSpecTM SnapIn (WinSpec is 32-bit data acquisition package for spectroscopy and imaging of Roper Scientific)
  □● Spectroscopic mapping SnapIn
  □● Abel Inversion (for Plasma Diagnostics) SnapIn
  □● PLE(Photo-luminescence excitation) SnapIn
  □● Spectroscopic Determination of Temperature SnapIn
  □● Plasma monitor SnapIn
  □● Decay Image analysis SnapIn
  □● Chromaticity diagram SnapIn
  □● Tiling SnapIn
  □● dll for third-party's Spectrograph

Stand Alone software for multi-channel(CCD, etc.) detector
  □● femto second time-resolved white light Pump &Probe Software

Stand Alone software for single-channel(PMT, PD and etc.) detector
  □● ns Flash Photolysis ソフトウェア
  □● Maker fringes measurement software
  □● Variable incident angle Spectrophotometer software
  □● femto second time-resolved Pump &Probe Software




Decay Image analysis AddIn

LightField provides complete timing control for Princeton Instruments's ICCD cameras. Using the ICCD camera with short pulsed laser, it can takes time resolved images. This "AddIn" can analyze the decay time from those images and make the decay time image.
・Decay analsys at a certain point
Image Of ImageDecay
・Decay analsys for whole image
Image Of ImageDecay













Spectroscopic mapping SnapIn

  WinSpecTM can control cooled CCD of Princeton Instruments and spectrograph. With the microscope, these system can measure microscopic photoluminescence and/or raman scattering light.
  The data of these microscopic spectroscopy provides the knowledge of micro area. This SnapIn adds the function of stage control to WinSpec.
FastMappingのイメージ

 ・ Support mortorized stage (SIGMA KOKI, SIGMA TECH, CHUO PRECISION, etc.)
 ・ Image construction by peak wavelength, intensity, FWHH (Gaussian/Lorentzian fitting support), etc.
 ・ Support color camera for capturing the image. Can select area from captured image.







マッピング概念図

Abel Inversion (for Plasma Diagnostics) SnapIn

アーベル変換概念図
In order to determine the plasma density, this SnapIn calculate the Abel Transformation from some spectra which measured in vaiable angle.

アーベル変換ダイアログ






Chromaticity diagram SnapIn
  This SnapIn can show CIE1931, 1960, 1976 Chromaticity in WinSpecTM.
Colormetric




PLE(Photo-luminescence excitation) SnapIn

  Photoluminescence excitation (abbreviated PLE) is photoluminescence and concerns the interaction between electromagnetic radiation and matter. The luminescence is monitored at CCD with spectrograph and the frequency of the excitation light will be varied.
  This SnapIn controls laser wavelength and monitored wavelength by wavemeter (optional).
PLE概念図


PLE概念図





Chromaticity diagram SnapIn
  This SnapIn can show CIE1931, 1960, 1976 Chromaticity in WinSpecTM.
Colormetric




(マルチスレッディング)タ イリングソフトウェア

Tiling 顕微鏡などに取り付けたCCDカメラで測定できる画角は、CCDカメラの素子の大きさで決まってしまいます。
 それよりも大きな範囲の画像を得たい場合に使用するソフトウェアです。サンプルを電動ステージにのせ、電動ステージを動かして、幾つかの画像を取得し、一枚の大きな画像にすることが出来ます。
  特徴的なのは、32bit Windows上で動作するにもかかわらず、2GBのサイズの画像を取得できます。
 また画像合成部分は、マルチスレッディングとなっていますので、測定しながら画像合成を行え、時間の節約が出来ます。
  470MB以上の画像はWinSpecでは表示は出来ないので、表示できないサイズの場合、サムネイル画像を表示します。サムネイル画像の見たい部分を指定して拡大表示を行うことが出来ます。

  WinSpecTM上で動作しますので、Princeton Instruments社製のCCDカメラに対応しています。
 また、フレームグラバーボードを追加して、アナログRGBカメラで、明視野カラー画像の画像取得、合成も行えるようになっています。
















他社製分光器用ドライバソフ ト
 
McPherson   WinSpecTMで は標準でACTON製分光器、Jobin Yvon Spex製分光器(全てではありません)をサポートしています。これら以外の分光器の制御をWinSpecで行わせる事もドライバソフト(DLL)を作成 する事で可能となります。

  作成したドライバソフトは、WinSpecの中から通常の分光器として使用できますので、Step&Glue機能なども、そのまま機 能さ せる事が出来ます。

  これまでに幾つかの分光器用のものを作成しています。左図は、、McPherson209Vにステッピングモーターを取り付けたもの用です。 DLLがアクセスするのは、ステッピングモーターのコントローラですので、非常に古い分光器であっても、新しいコントローラーを結線するなどして作成する 事も可能な場合が多いです。
  








nsフラッシュホトリシス測 定ソフトウェア
Apparatus1
 ナノ秒レーザーパルスによりサンプルを励起し、誘起される過渡吸収、発光を時間分解分光するソフトウェアです。図のような構成を想定しています。
 本ソフトウェアでは、

・分光器(中心波長)の制御
・デジタルオシロスコープからの読み込み
・励起光プローブ光(過渡 吸収の場合)用シャッターの制御

を行い過渡吸収、発光スペクトル及び、時間変化を取得します。
さらに測定した時間プロファイルに対して1次Exponential, 2次Exponential, Stretched Exponential 関数等のフィッティングを行う事も出来ます。

nsフラッシュ